Методологические основы оценки радиационной стойкости космической микро- и наноэлектроники в рамках целевых работ «ПИЧ» на РС МКС

Авторы
Анохин М.В. (1), Галкин В.И. (1), Егоров М.В. (1), Морозов О.В. (1), Сазонов В.В. (1)
Организации
(1) Московский государственный университет имени М.В. Ломоносова
Сессия
Космическое приборостроение и эксперимент
Форма представления
Устный
Текст тезисов
В рамках целевых работ на РС МКС «ПИЧ» (поле ионизирующих частиц), разрабатывается система мониторинга радиационной опасности с помощью метода спектров плотностей энерговыделений; осуществляется разработка методов измерения чувствительности электронных компонентов к одиночным событиям, опирающихся на лабораторный и натурный эксперимент и детальное статистическое моделирование. Определен основной состав научной аппаратуры «ПИЧ», включающий в себя разнесенные в трехмерном пространстве микродозиметрические мониторы, блоки питания и вычисления.
Новый подход, являющийся альтернативой традиционному дозовому подходу к оценке радиационной стойкости электронной аппаратуры космических аппаратов, представляет собой не только метод испытания электроники на радиационную стойкость, он позволяет выстроить цельную систему мониторинга радиационной опасности, исследования стойкости электронных компонентов и оптимизации компоновки создаваемой электронной аппаратуры, опирающуюся на лабораторный и натурный эксперименты и детальное статистическое моделирование. Использование такой системы позволит существенно улучшить прогноз радиационной опасности за счет использования более адекватных физических моделей радиационных эффектов и данных оперативного радиационного мониторинга in situ и при этом даст возможность разработчикам и пользователям аппаратуры участвовать в испытаниях или даже проводить их самостоятельно. Переход на предлагаемую систему позволит существенно расширить перечень электронной компонентной базы, разрешенной для применения в космической технике.