Авторы
Анохин М.В.(1,2,3), Галкин В.И. (2), Дубов А.Е. (1), Егоров М.В. (2), Морозов О.В.(2), Савкин Л.В. (1), Сазонов В.В. (2)
Организации
(1) Институт космических исследований Российской академии наук, Специальное конструкторское бюро космического приборостроения (СКБ КП ИКИ РАН)
(2) Московский государственный университет им. М.В. Ломоносова (МГУ)
(3) Институт тонких экологичных технологий (ИТЭТ)
(2) Московский государственный университет им. М.В. Ломоносова (МГУ)
(3) Институт тонких экологичных технологий (ИТЭТ)
Сессия
Космическое приборостроение и эксперимент
Форма представления
Устный
Научный руководитель
Анохин М.В.
Место работы научного руководителя
Институт космических исследований Российской академии наук, Специальное конструкторское бюро космического приборостроения (СКБ КП ИКИ РАН)
Текст тезисов
В продолжении темы целевых работ «ПИЧ» (поле ионизирующих частиц), планируемых на Российском сегменте МКС, был получен для событий ядерных реакций частотный спектр локальной плотности электрического заряда в чувствительной области ПЗС матрицы, находящейся на космическом аппарате вне магнитосферы Земли. Дана оценка частоты одиночных и кластерных событий в микро- и наноэлектронике исходя из того, что в точке возникновения ядерной реакции возникает максимальная плотность мощности, характерная для конкретного поля ионизирующих частиц. Полученная информация может быть использована для разработки алгоритма верификации электронных комплектующих, изготовленных по общепромышленной технологии (COTS) для аппаратуры специального применения.
Одной из наиболее сложных проблем для широкого использования компонентов COTS в аэрокосмических системах является большая изменчивость реакции чувствительного микроэлектронного объёма на воздействие многокомпонентного поля ионизирующих частиц, образуемого космическими лучами. Кроме того, что здесь требуется знание структуры, процесса изготовления электронного элемента и характера производственных испытаний на предприятии изготовителе, необходимо знать определяющие характеристические параметры окружающей среды при эксплуатации прибора.
Одной из наиболее сложных проблем для широкого использования компонентов COTS в аэрокосмических системах является большая изменчивость реакции чувствительного микроэлектронного объёма на воздействие многокомпонентного поля ионизирующих частиц, образуемого космическими лучами. Кроме того, что здесь требуется знание структуры, процесса изготовления электронного элемента и характера производственных испытаний на предприятии изготовителе, необходимо знать определяющие характеристические параметры окружающей среды при эксплуатации прибора.